Archivo:Simon 3.png
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Resumen
| Descripción |
English: De acuerdo al trabajo realizado por Jay Brusse y Lyudmyla Panashchenko, A Screening Method Using Pulsed-Power Combined with Infrared Imaging to Detect Pattern Defects in
Bulk Metal Foil or Thin Film Resistors, al final del proceso de la fabricación de las resistencias de lámina metalica, es representado en el siguiente dibujo, observar que la capa de cobre no existe. |
| Fecha | |
| Fuente | Trabajo propio |
| Autor | Donxsegundo |
Licencia
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| Fecha y hora | Miniatura | Dimensiones | Usuario | Comentario | |
|---|---|---|---|---|---|
| actual | 15:45 19 dic 2022 | | 920 × 850 (59 kB) | wikimediacommons>Donxsegundo | Uploaded own work with UploadWizard |
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